Journal Title：Mapan-journal Of Metrology Society Of India
MAPAN-Journal Metrology Society of India is a quarterly publication. It is exclusively devoted to Metrology (Scientific, Industrial or Legal). It has been fulfilling an important need of Metrologists and particularly of quality practitioners by publishing exclusive articles on scientific, industrial and legal metrology.
The journal publishes research communication or technical articles of current interest in measurement science; original work, tutorial or survey papers in any metrology related area; reviews and analytical studies in metrology; case studies on reliability, uncertainty in measurements; and reports and results of intercomparison and proficiency testing.
MAPAN-Journal Metrology Society of India 是一份季刊。它專門致力于計量學(xué)（科學(xué)、工業(yè)或法律）。它通過發(fā)表關(guān)于科學(xué)、工業(yè)和法律計量的獨家文章，滿足了計量學(xué)家和特別是質(zhì)量從業(yè)人員的重要需求。
該期刊發(fā)表當(dāng)前測量科學(xué)領(lǐng)域感興趣的研究交流或技術(shù)文章；任何計量相關(guān)領(lǐng)域的原創(chuàng)作品、教程或調(diào)查論文；計量學(xué)評論和分析研究；關(guān)于測量可靠性和不確定度的案例研究；以及比對和熟練度測試的報告和結(jié)果。
Mapan-journal Of Metrology Society Of India創(chuàng)刊于2009年，由Springer India出版商出版，收稿方向涵蓋工程技術(shù) - 物理：應(yīng)用全領(lǐng)域，此期刊水平偏中等偏靠后，在所屬細(xì)分領(lǐng)域中專業(yè)影響力一般，過審相對較易，如果您文章質(zhì)量佳，選擇此期刊，發(fā)表機率較高。平均審稿速度 12周，或約稿 ，影響因子指數(shù)1，該期刊近期沒有被列入國際期刊預(yù)警名單，廣大學(xué)者值得一試。
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
名詞解釋：
中科院分區(qū)也叫中科院JCR分區(qū)，基礎(chǔ)版分為13個大類學(xué)科，然后按照各類期刊影響因子分別將每個類別分為四個區(qū)，影響因子5%為1區(qū)，6%-20%為2區(qū)，21%-50%為3區(qū)，其余為4區(qū)。
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q4 | 62 / 76 |
19.1% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 157 / 179 |
12.6% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q4 | 68 / 76 |
11.18% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 152 / 179 |
15.36% |
名詞解釋：
WOS即Web of Science，是全球獲取學(xué)術(shù)信息的重要數(shù)據(jù)庫，Web of Science包括自然科學(xué)、社會科學(xué)、藝術(shù)與人文領(lǐng)域的信息，來自全世界近9,000種最負(fù)盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學(xué)術(shù)會議多學(xué)科內(nèi)容。給期刊分區(qū)時會按照某一個學(xué)科領(lǐng)域劃分，根據(jù)這一學(xué)科所有按照影響因子數(shù)值降序排名，然后平均分成4等份，期刊影響因子值高的就會在高分區(qū)中，最后的劃分結(jié)果分別是Q1，Q2，Q3，Q4，Q1代表質(zhì)量最高。
| CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore排名 | ||||||||
| 2.3 | 0.263 | 0.61 |
|
名詞解釋：
CiteScore：衡量期刊所發(fā)表文獻的平均受引用次數(shù)。
SJR:SCImago 期刊等級衡量經(jīng)過加權(quán)后的期刊受引用次數(shù)。引用次數(shù)的加權(quán)值由施引期刊的學(xué)科領(lǐng)域和聲望 (SJR) 決定。
SNIP:每篇文章中來源出版物的標(biāo)準(zhǔn)化影響將實際受引用情況對照期刊所屬學(xué)科領(lǐng)域中預(yù)期的受引用情況進行衡量。
| 是否OA開放訪問： | h-index： | 年文章數(shù)： |
| 未開放 | 13 | 98 |
| Gold OA文章占比： | 2021-2022最新影響因子（數(shù)據(jù)來源于搜索引擎）: | 開源占比（OA被引用占比）： |
| 3.23% | 1 | 0.03... |
| 研究類文章占比：文章 ÷（文章 + 綜述） | 期刊收錄： | 中科院《國際期刊預(yù)警名單（試行）》名單： |
| 93.88% | SCIE | 否 |
歷年IF值(影響因子)：
歷年引文指標(biāo)和發(fā)文量：
歷年中科院JCR大類分區(qū)數(shù)據(jù)：
歷年自引數(shù)據(jù)：
2023-2024國家/地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計：
| 國家/地區(qū) | 數(shù)量 |
| India | 98 |
| CHINA MAINLAND | 22 |
| Egypt | 14 |
| Indonesia | 6 |
| Turkey | 6 |
| Iran | 5 |
| Italy | 5 |
| South Korea | 5 |
| Lithuania | 4 |
| Malaysia | 4 |
2023-2024機構(gòu)發(fā)文量統(tǒng)計：
| 機構(gòu) | 數(shù)量 |
| COUNCIL OF SCIENTIFIC & INDUSTRI... | 57 |
| CSIR - NATIONAL PHYSICAL LABORAT... | 53 |
| ACADEMY OF SCIENTIFIC & INNOVATI... | 26 |
| NATIONAL INSTITUTE FOR STANDARDS... | 14 |
| NATIONAL INSTITUTE OF TECHNOLOGY... | 14 |
| INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY S... | 12 |
| THAPAR INSTITUTE OF ENGINEERING ... | 7 |
| ISTITUTO NAZIONALE DI RICERCA ME... | 5 |
| KAUNAS UNIVERSITY OF TECHNOLOGY | 4 |
| KOREA RESEARCH INSTITUTE OF STAN... | 4 |
近年引用統(tǒng)計：
| 期刊名稱 | 數(shù)量 |
| MAPAN-J METROL SOC I | 136 |
| METROLOGIA | 53 |
| ATMOS ENVIRON | 40 |
| MEASUREMENT | 22 |
| IEEE T INSTRUM MEAS | 21 |
| ATMOS CHEM PHYS | 17 |
| CURR SCI INDIA | 17 |
| J GEOPHYS RES-ATMOS | 16 |
| IEEE T POWER DELIVER | 14 |
| CLIN CHEM | 13 |
近年被引用統(tǒng)計：
| 期刊名稱 | 數(shù)量 |
| MAPAN-J METROL SOC I | 136 |
| REV SCI INSTRUM | 8 |
| MEASUREMENT | 7 |
| ACCREDIT QUAL ASSUR | 5 |
| J ELECTRON MATER | 5 |
| J INTELL FUZZY SYST | 4 |
| MICROCHEM J | 4 |
| MICROSYST TECHNOL | 4 |
| SENSORS-BASEL | 4 |
| APPL SCI-BASEL | 3 |
近年文章引用統(tǒng)計：
| 文章名稱 | 數(shù)量 |
| Role of National Pressure and Va... | 6 |
| Contributions of National Standa... | 5 |
| Epidemiological Study on Respira... | 5 |
| A Non-destructive FTIR Method fo... | 4 |
| Performance Analysis of Hybrid O... | 4 |
| FEA-Based Design Studies for Dev... | 4 |
| Reconstruction Method Adopting L... | 3 |
| Investigations on Metaheuristic ... | 3 |
| Signal Averaging for Noise Reduc... | 3 |
| Development and Realization of I... | 2 |
| 同小類學(xué)科的其他優(yōu)質(zhì)期刊 | 影響因子 | 中科院分區(qū) |
| International Journal Of Ventilation | 1.1 | 4區(qū) |
| Journal Of Environmental Chemical Engineering | 7.4 | 2區(qū) |
| Journal Of Energy Storage | 8.9 | 2區(qū) |
| Complexity | 1.7 | 4區(qū) |
| Chemical Engineering Journal | 13.3 | 1區(qū) |
| International Journal Of Hydrogen Energy | 8.1 | 2區(qū) |
| Electronics | 2.6 | 3區(qū) |
| Aerospace | 2.1 | 3區(qū) |
| Buildings | 3.1 | 3區(qū) |
| Shock Waves | 1.7 | 4區(qū) |
若用戶需要出版服務(wù)，請聯(lián)系出版商：METROLOGY SOC INDIA, NPL PREMISES, DR K S KRISHNAN MARG, NEW DELHI, INDIA, 110 012。
