《Ieee Journal On Exploratory Solid-state Computational Devices And Circuits》雜志是一本的高質量期刊，該雜志的錄用率受多種因素影響，想具體了解可聯(lián)系雜志社或咨詢在線客服。

《Ieee Journal On Exploratory Solid-state Computational Devices And Circuits》雜志的錄用率受多種因素影響，具體如下：

年發(fā)文量：《Ieee Journal On Exploratory Solid-state Computational Devices And Circuits》雜志年發(fā)文量為：22篇。年發(fā)文量較大的期刊，相對而言錄用率會高一些。

質量與創(chuàng)新性：論文的科學性、嚴謹性、數據可靠性以及創(chuàng)新性是關鍵。

期刊分區(qū)：《Ieee Journal On Exploratory Solid-state Computational Devices And Circuits》雜志在JCR的分區(qū)為Q3。

論文質量：包括研究設計的合理性、數據的可靠性、分析方法的科學性等。

影響力與排名：《Ieee Journal On Exploratory Solid-state Computational Devices And Circuits》雜志IF影響因子為：2。高影響力的期刊通常對論文質量要求更高，錄用率相對較低。

審稿流程：嚴格的多輪審稿流程會篩選掉部分稿件，導致錄用率下降。

投稿數量：在特定時期內，若大量研究者集中向某期刊投稿，會導致稿件堆積，錄用率下降。

SCI期刊的錄用率受多重因素影響，作者應根據自身研究特點選擇合適的期刊，并確保稿件質量以提高錄用機會，投稿前務必仔細閱讀期刊的投稿指南，并與雜志社保持良好溝通。

《Ieee Journal On Exploratory Solid-state Computational Devices And Circuits》雜志簡介

中文簡稱：固態(tài)計算器件與電路探索期刊
國際標準簡稱：IEEE J EXPLOR SOLID
出版商：IEEE
出版地區(qū)：United States
ISSN：2329-9231
研究方向：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE

《固態(tài)計算器件與電路探索期刊》是一本專注于固態(tài)電路領域的探索性研究的學術期刊。該期刊由IEEE固態(tài)電路學會出版，旨在推動跨學科研究，特別是在使用探索性材料和設備進行新型、能效高的計算研究，這些研究超越了傳統(tǒng)的互補金屬氧化物半導體（CMOS）技術。

雜志的主要關注點是探索新材料、量子電子設備、自旋電子學和納米磁性設備、應變電子學（壓電）設備、等離子體光學、功能性材料、高扇入扇出邏輯電路、可重構和非易失性計算電路，以及理解片上通信手段的計算電路。該雜志致力于為研究人員提供一個獨特的跨學科論壇，記錄在計算設備、電路和架構領域中，作為CMOS技術替代方案的有前景的替代技術的進展。

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