X射線照相技術(shù)的檢測參數(shù)系統(tǒng)全景設(shè)計
作者：劉小明; 韓壯壯; 申國慶; 杜建國; 魏錦濤 山西航天清華裝備有限責(zé)任公司; 長治046012
摘要：根據(jù)X射線照相曝光曲線的技術(shù)特點,形成了X射線照相技術(shù)的檢測參數(shù)系統(tǒng)全景設(shè)計。在全景設(shè)計圖上可以進行設(shè)備的選用及性能比較,確定具體的透照參數(shù),預(yù)設(shè)底片黑度結(jié)果,明確具體工藝的影像清晰度。提出了'球錐場'與'圓錐場'結(jié)合的分析方法,以全景設(shè)計圖為基礎(chǔ)可以開發(fā)檢測參數(shù)分析軟件,實現(xiàn)不同厚度工件的組合檢測。
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